双光路设计提升重复性精度至dE*ab≤0.005
双光路设计在测量样品信号的同时监测光源能量波动,在测量时减少干扰,获得更高的测量稳定性,将仪器测量重复性指标提高至dE*ab≤0.005。保证了仪器,测量速度、准确性、稳定性和台间差一致性高标准。相关技术受到中国发明专利和美国发明专利保护。
差分光谱引擎全面提升测量表现
DS-36D系列分光测色仪传感器进光量比上一代提升50%,光谱分辨率提升30%,信噪比更高,重复性、台间差、示值表现更优秀,与基准级仪器数据保持高度一致,仪器台间差可达0.08,重复性可达0.005。相关技术受到中国发明专利保护。
创新的纳米级分辨率光栅分光技术
创新是彩谱的灵魂。历经近10年的潜心研究,采用创新的MEMS工艺制作的光栅结合阵列传感器,在纳米级光谱分辨率基础上让色彩测量更精准,再一次引领了行业创新方向,极大的提升了产品的技术表现。相关技术受到中国发明专利保护。
高精度自动校准技术
先进的自动校准技术大幅改善仪器长期重复性。恒温条件下,第1天与第30天的dE*ab依然可达0.01;0℃-40℃任意温度变化,dE*ab 可达0.1以内。
自研荧光校准技术
自动调节UV强度,测荧光材料时,保证仪器数值与基准级数值高度一致。
BCRA绿板波长校准
采用基准级BCRA绿板自动进行波长准确性校正,确保仪器始终如一。